概述:
本儀器用于測(cè)量鍍膜玻璃的面電阻,或稱(chēng)方塊電阻(Ohm/sq.)。
測(cè)量對(duì)象:表面導(dǎo)電的Low-E鍍膜玻璃
特性:
四探針式測(cè)量,準(zhǔn)確度高;
探針直徑大,針頭光滑,能伸縮,不易劃傷膜層;
測(cè)量速度快;
液晶屏顯示讀數(shù);
帶有電量不足指示燈。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍:0.1-199.9 Ohm/sq.;
分辨率:0.1 Ohm/sq.;
精確性:0.9 % ;
外形尺寸:115mm×68mm×30mm;
重量:約 150g
說(shuō)明:
檢測(cè)過(guò)程和讀數(shù)時(shí)都要保持儀器與待測(cè)樣片充分接觸;
為提高測(cè)量的精確度,最好在離待測(cè)樣片邊緣大于5cm的位置測(cè)量;
RC3175與RC2175相比,除測(cè)量范圍不同外,其他功能一致;
生產(chǎn)商:美國(guó)EDTM